OPTM反射率测试-OPTM-大塚电子公司(查看)

大塚电子（苏州）有限公司主要销售用于光学特性评价?检查的装置。其装置用于在LED、 OLED、汽车前灯等的光源?照明产业以及液晶显示器、有机EL显示器等平板显示产业以及其相 关材料的光学特性评价?检查。欢迎新老客户来电咨询！

为什么膜厚仪有时测量不准确?

在系统矫正时没有选择合适的基体。基体***1***面为7mm，***1小厚度为0.2mm，低于此临界条件测量是不可靠的。

附着物质的影响。本仪器对那些妨碍探头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感。因此必须清除附着物质，以保证探头与覆盖层表面直接接触。在进行系统矫正时，OPTM厂家，选择的基体的表面也必须是裸1露的、光滑的。

仪器发生故障。此时可以和技术人员交流或者返厂维修。

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膜厚测试仪测量时间的选择　　测量时间越长稳定度越好，OPTM反射率测试，一般来说，单镀层不小于15秒，双镀层和合金比例测量时间不少于30秒钟，OPTM，三镀层测量时间不少于45秒，镀液主离子浓度测量时间在30～60秒之间。

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膜厚仪测试时有关辐射安全注意事项

幅射安全方面膜厚仪由于使用X射线管而产生辐射。测量头的设计完全符合国际X射线安全要求：　　·测量头控制台上的一个钥匙开关通过打开或关闭X射线管上的高压决定X幅射的产生与否；　　·一个多级故障自动***互锁系统可控制X幅射的产生，从而有效保护操作者的安全；　　·如果测量门没有完全关闭，X幅射就不会进入测量室；　　·足够的遮罩用来减小外部的幅射量。